مشخصات پژوهش

عنوان	طراحی LUT با قابلیت خود تست کنندگی داخلی اتوماتیک
نوع پژوهش	مقاله ارائه شده کنفرانسی
کلیدواژه‌ها	خود تست کنندگی داخلی، FPGA، BIST، LUT
چکیده	امروزه FPGAها در کاربردهای صنعتی از اهمی خاصی برخوردار هستند. از این رو، اطمینان از عملکرد صحیح آنها دارای اهمیت فراوانی می باشد. ما در این مقاله، یک هسته تست داخلی از نوع خودتست کنندگی اتوماتیک را در یک LUT با هدف تست و بررسی خطا طراحی کرده ایم. جهت بررسی این روش از تکنولوژی 45 نانومتر در بستر نرم افزار HSPICE استفاده کرده ایم. از مزایای این روش می توان به اتوماتیک بودن آزمون و درصد بالای پوشش خطا اشاره کرد.
پژوهشگران	هادی جهانی راد (نفر دوم)، هانیه کرم (نفر اول)